Das DHT® Chamber for Memory Environmental Testing System ist eine spezialisierte Lösung für Alterungstests, die auf Halbleiterspeicher (DRAM, NAND usw.) zugeschnitten ist und Chipherstellern, Testerfirmen und Speicherentwicklern dient. Mit dem Anstieg der Speichernachfrage durch Rechenzentren, mobile Kommunikation und künstliche Intelligenz ist der Markt in einen "Superzyklus" eingetreten, der Kosteneffizienz und Testdurchsatz entscheidend macht. DHT®-Modelle wie der DHT-H5620 und der DHT-AF8652 integrieren sowohl Burn-In- (BI) als auch Core-Testfunktionen und unterstützen extrem weite Temperaturbereiche von -40°C bis 150°C, Temperaturgleichmäßigkeit innerhalb von 0,4°C und parallele Tests mit mehreren Slots. Diese Systeme ermöglichen effiziente, hochvolumige Speichertests und helfen Kunden, im Zeitalter des schnellen Datenwachstums Skalierbarkeit und Rentabilität zu erreichen.