Intelligente Datenanalyse: Ausgestattet mit einer firmeneigenen Algorithmenbibliothek, die in jahrelanger Erfahrung entwickelt wurde, analysiert das System Alterungsdaten in Echtzeit und optimiert die Prüfparameter, wodurch falsch-positive Ergebnisse reduziert und Nachbearbeitungskosten minimiert werden.
Stabile Zuverlässigkeit und wartungsfreundliche Konstruktion: Das System ist mit hochpräzisen mechanischen Komponenten ausgestattet und unterstützt das schnelle Be- und Entladen von Chips, wodurch manuelle Eingriffe reduziert und eine Stabilitätsrate von 99,98% erreicht werden. Schlüsselkomponenten wie Heizmodule und Sensoren sind unabhängig voneinander austauschbar, was die Wartungszeit um 50% verkürzt und einen kontinuierlichen Betrieb der Produktionslinie gewährleistet.
Erweiterter Temperaturbereich und Präzisionskontrolle: Dieses System übertrifft den Industriestandard von -10°C bis 125°C und unterstützt Standardtests von -20°C bis 125°C mit einem optionalen erweiterten Bereich von -40°C bis 150°C, was eine umfassende Zuverlässigkeitsvalidierung von Speicherbausteinen unter extremen Umweltbedingungen ermöglicht. Die Temperaturgleichmäßigkeit wurde von den typischen 3°C auf einen präzisen Bereich von 0,4°C bis 2,0°C verbessert, was konsistente und zuverlässige Testdaten gewährleistet.
Effiziente parallele Tests und Skalierbarkeit: Mit seinen flexiblen Steckplatzkonfigurationen unterstützt das System die modulare Erweiterung auf 24, 34, 48 oder mehr Steckplätze und erfüllt damit die unterschiedlichen Anforderungen an DRAM- und NAND-Chip-Tests. Diese Skalierbarkeit erfüllt die unterschiedlichen Anforderungen von Servern, mobilen Geräten und anderen Anwendungen.
Hochgeschwindigkeits-Burn-In-Testtechnologie: Kann parallele Alterungstests bei Frequenzen von bis zu 10 MHz über mehrere Leiterplatten hinweg durchführen, was die Testzyklen erheblich verkürzt. Die Integration von Burn-In- (BI) und Core-Testverfahren minimiert Geräteübergänge und steigert die Gesamteffizienz um über 30%.
Integrierte Prüfung und Kostenoptimierung: Der DHT-H5620 konsolidiert Alterungs- und Funktionstests und reduziert damit sowohl die Investitions- als auch die Betriebskosten. Er ermöglicht auch die Ausführung von Testprogrammen während des Alterungsprozesses und erleichtert so die frühzeitige Erkennung defekter Chips.
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