Le système de test environnemental DHT® Chamber for Memory est une solution de test de vieillissement spécialisée, conçue pour les mémoires semi-conductrices (DRAM, NAND, etc.), au service des fabricants de puces, des sociétés de test et des développeurs de mémoires. Avec l'explosion de la demande de stockage induite par les centres de données, les communications mobiles et l'IA, le marché est entré dans un "supercycle", ce qui rend la rentabilité et le débit de test critiques. Les modèles DHT® tels que le DHT-H5620 et le DHT-AF8652 intègrent à la fois les fonctions de test Burn-In (BI) et Core, prenant en charge des plages de température ultra larges allant de -40°C à 150°C, une uniformité de température inférieure à 0,4°C et des tests parallèles multi-fentes. Ces systèmes permettent d'effectuer des tests de mémoire efficaces et en grand volume, aidant les clients à atteindre l'évolutivité et la rentabilité à l'ère de la croissance rapide des données.