Chambre pour le système de test environnemental des mémoires (High-Speed Aging BI)

Le DHT® Chamber for Memory Environmental Test System (High-Speed Aging BI) est une solution de test de vieillissement avancée spécialement développée pour les mémoires semi-conductrices telles que les DRAM et les NAND. Elle est largement utilisée par les fabricants de puces, les fournisseurs de testeurs et les instituts de recherche et développement sur les mémoires.

Les modèles tels que le DHT-H5620 et le DHT-AF8652 intègrent à la fois des capacités de test de burn-in (BI) et de test de noyau. Ces systèmes prennent en charge une plage de température ultra large allant de -40°C à 150°C, assurent un contrôle de la température de ±0,4°C avec une grande uniformité et permettent des tests parallèles multicanaux, ce qui constitue une solution stable et efficace pour les demandes de tests de mémoire à grande vitesse et en grand volume.

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Avantages

Analyse intelligente des données : Équipé d'une bibliothèque d'algorithmes exclusive développée au fil de nombreuses années d'expérience, le système analyse les données de vieillissement en temps réel et optimise les paramètres de test, réduisant ainsi les faux positifs et minimisant les coûts de reprise.

Fiabilité stable et facilité d'entretien : Construit avec des composants mécaniques de haute précision, le système permet un chargement et un déchargement rapides des puces, ce qui réduit les interventions manuelles et permet d'atteindre un taux de stabilité de 99,98%. Les composants clés, tels que les modules de chauffage et les capteurs, sont remplaçables indépendamment, ce qui réduit le temps de maintenance de 50% et garantit le fonctionnement continu de la ligne de production.

Gamme de température étendue et contrôle de précision : Dépassant la norme industrielle de -10°C à 125°C, ce système prend en charge les tests standard de -20°C à 125°C, avec une plage étendue optionnelle de -40°C à 150°C, ce qui permet une validation complète de la fiabilité des dispositifs de mémoire dans des conditions environnementales extrêmes. L'uniformité de la température a été améliorée, passant des 3°C habituels à une plage précise de 0,4°C à 2,0°C, ce qui garantit des données de test cohérentes et fiables.

Tests parallèles efficaces et évolutivité : Doté de configurations de fentes flexibles, le système prend en charge l'expansion modulaire jusqu'à 24, 34, 48 ou plus de fentes, s'adaptant aux diverses exigences de test des puces DRAM et NAND. Cette évolutivité permet de répondre aux divers besoins des serveurs, des appareils mobiles et d'autres applications.

Technologie de test de déverminage à grande vitesse : Capable d'effectuer des tests de vieillissement en parallèle à des fréquences allant jusqu'à 10 MHz sur plusieurs cartes, ce qui réduit considérablement les cycles de test. L'intégration des processus de test de Burn-In (BI) et de Core minimise les transitions d'équipement, améliorant l'efficacité globale de plus de 30%.

Tests intégrés et optimisation des coûts : Le DHT-H5620 consolide les tests de vieillissement et les tests fonctionnels, réduisant ainsi les investissements et les coûts d'exploitation. Il permet également d'exécuter des programmes de test pendant le processus de vieillissement, ce qui facilite la détection précoce des puces défectueuses.

Vidéo des caractéristiques