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Le DHT® Highly Accelerated Life Test (HALT) Chamber est un système de test de fiabilité haute performance spécialement conçu pour la phase de développement des produits électroniques et électromécaniques. En appliquant des niveaux de stress bien au-delà des conditions normales de fonctionnement, il découvre rapidement les défauts potentiels de conception, les défauts de fabrication et les faiblesses des matériaux. Le système simule une gamme d'environnements de stress combinés, y compris des fluctuations de température extrêmes, une humidité élevée, une vibration aléatoire à six degrés de liberté et un choc thermique, accélérant considérablement le vieillissement des produits en une courte période et révélant des modes de défaillance précoces souvent difficiles à détecter au cours de la durée de vie normale du service.
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